高、低溫環(huán)境下的介電溫譜及頻譜測量
 

　　高、低溫介電測量系統(tǒng)用于分析寬頻、高、低溫環(huán)境條件下被測樣品的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線，是專業(yè)從事材料介電性能、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測試工具。用戶通過軟件可以直接得出介電間、頻率、偏壓變化的曲線，高溫介電測量系統(tǒng)是功能材料測試必bei電學(xué)性能評估設(shè)備。系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行頻率、溫度、時(shí)間、測試項(xiàng)等設(shè)置，符合材料測試多樣化測試的需求。
 

　　本系統(tǒng)主要用于材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)性能測試，系統(tǒng)包含高、低溫環(huán)境、阻抗分析儀、測試夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機(jī)電耦合系數(shù)等，同時(shí)可分析被測樣品隨溫度，頻率，時(shí)間變化的曲線，測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購；,實(shí)現(xiàn)了自動完成不同環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測量與分析。另外，還可根據(jù)用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)，通過測量C和D值，自動完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時(shí)間多維變化的曲線。一次測量，同時(shí)輸出，測量效率高、數(shù)據(jù)豐富多樣。