電壓擊穿測(cè)試儀，是將一規(guī)定交流或直流高壓施加在電器帶電部分和非帶電部分(一般為外殼)之間以檢查電器的絕緣材料所能承受耐壓能力的試驗(yàn)。電器在長(zhǎng)期工作中，不僅要承受額定工作電壓的作用，還要承受操作過(guò)程中引起短時(shí)間的高于額定工作電壓的過(guò)電壓作用。在這些電壓的作用下，電氣絕緣材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)將發(fā)生變化。當(dāng)過(guò)電壓強(qiáng)度達(dá)到某一定值時(shí)，就會(huì)使材料的絕緣擊穿，電器將不能正常運(yùn)行，操作者就可能觸電，危及人身安全。電氣主要測(cè)試指標(biāo)包括交/直流耐壓、泄漏電流等。
 

　　電壓擊穿選型，測(cè)量電壓選型：首先選擇合適的測(cè)量電壓，也就是試驗(yàn)時(shí)的最大電壓，目前標(biāo)準(zhǔn)的電壓擊穿試驗(yàn)儀的電壓范圍為20KV型、50KV型、100KV型、150KV型、200KV型，最大可達(dá)500KV型。
 

　　設(shè)備的安全可靠要考慮以下幾個(gè)方面！
 

　　1、TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)：
 

　　目前材料電壓擊穿試驗(yàn)儀采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無(wú)非是提高儀器的采集的抗干擾處理。對(duì)于電弧放電過(guò)程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。。TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，將起到對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)。
 

　　2、多級(jí)循環(huán)電壓采集技術(shù)：
 

　　材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5～1/3,國(guó)際通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級(jí)電壓瞬間下降一定比率來(lái)判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。。
 

　　3、低通濾波電流監(jiān)測(cè)技術(shù):
 

　　高壓壓放電過(guò)程中將產(chǎn)生高頻信號(hào)。電流采集傳感器，大都為工頻電流傳感器。而采集過(guò)程中無(wú)法將高頻信號(hào)處理。從而造成檢測(cè)不。同時(shí)無(wú)論是采用磁通門或霍爾原理都存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號(hào)過(guò)大，從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分(隔離只起到屏蔽)。采用低濾波電流采集傳感器將高頻夾波信號(hào)處理后，傳入PLC同時(shí)采用穩(wěn)壓技術(shù)而保證電流采集精度與保護(hù)采集元件。
 

　　4、雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)：
 

　　wei*采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電擊穿儀器，目前電壓擊穿儀器大都具備過(guò)壓、過(guò)流保護(hù)系統(tǒng)，假如，過(guò)壓或過(guò)流元失效，何來(lái)防護(hù)試驗(yàn)儀器及操作人員安全。而采用duyou的雙系統(tǒng)相互制約，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問(wèn)題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí)，將瞬間切斷高壓。
 

　　試驗(yàn)電極，要考慮測(cè)試的是片狀材料還是薄膜材料，薄膜材料同時(shí)要有電極重量的要求。對(duì)于片狀固體材料也要考慮是在空氣中試驗(yàn)，還是在絕緣油中試驗(yàn)，同時(shí)要考慮切換電極時(shí)間快，效率高，適合試驗(yàn)室使用。
 

　　軟件功能：
 

　　要考慮到升級(jí)和響應(yīng)速度的問(wèn)題，畢竟測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)每幾年要更新一次。所以軟件的升級(jí)接口要考慮到。同時(shí)也要兼顧操作性方便的問(wèn)題！
 

　　華測(cè)電壓擊穿試驗(yàn)儀-采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗(yàn)。電壓擊穿測(cè)試儀主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹(shù)脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試；電壓擊穿測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、采集、處理，并可存取、顯示、打印。
 

　　華測(cè)儀器可根據(jù)不同行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)及用戶的要求，為您定制行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)所需的特殊測(cè)試功能。