固體電介質(zhì)電擊穿的理論是以在介質(zhì)中發(fā)生碰撞電離為基礎(chǔ)的。它不包括由邊緣效應(yīng)、介質(zhì)劣化等因素引起的擊穿。
 

　　固體電介質(zhì)的中間存在少量處于導(dǎo)電能量狀態(tài)的電子(傳導(dǎo)電子)。它在電場(chǎng)加速下將與晶格點(diǎn)上的原子碰撞，但因固體介質(zhì)中的原子相互聯(lián)系十分緊密，所以必須考慮傳導(dǎo)電子與晶格碰撞。
 

　　由碰撞電離引起擊穿有下述兩種解釋：固體擊穿理論是考慮單位時(shí)間傳導(dǎo)電子從電場(chǎng)中獲得的能量與單位時(shí)間內(nèi)由于碰撞而失去的能量之間，因不平衡而引起擊穿；另一種擊穿理論則認(rèn)為：傳導(dǎo)電子由電場(chǎng)作用得到了可使晶格原子電離的能量,產(chǎn)生了電子崩，當(dāng)電子崩發(fā)展到足夠強(qiáng)時(shí)，引起固體電介質(zhì)擊穿。
 

　　電壓擊穿的特點(diǎn)：電壓作用時(shí)間短，擊穿電壓高，電介質(zhì)溫度不高；擊穿場(chǎng)強(qiáng)與電場(chǎng)均勻程度有密切關(guān)系，而與周?chē)h(huán)境溫度的高低幾乎無(wú)關(guān)。
 

　　電壓擊穿試驗(yàn)儀主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹(shù)脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試。
 

　　華測(cè)電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、采集、處理，并可存取、顯示、打印。
 

　　華測(cè)其它相關(guān)產(chǎn)品：
 

可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品
 

　　華測(cè)儀器--致力于材料電學(xué)測(cè)試技術(shù)