在電場作用下,能產(chǎn)生化的切物質(zhì)又被稱之為電介質(zhì)。電介質(zhì)在電子工業(yè)中用來做集成電路的基板、電容器等。如果將塊電介質(zhì)放入平行電場中,則可發(fā)現(xiàn)在介質(zhì)表面感應(yīng)出了電荷,即正板附近的電介質(zhì)感應(yīng)出了負(fù)電荷,負(fù)板附近的介質(zhì)表面感應(yīng)出正電荷。這種電介質(zhì)在電場作用下產(chǎn)生感生電荷的現(xiàn)象,稱之為電介質(zhì)的化。感應(yīng)電荷產(chǎn)生的原因在于眾質(zhì)內(nèi)部質(zhì)點(diǎn)(原子、分子、離子)在電場作用下正負(fù)電荷重心的分離,變成了偶攜粒不同的偶板子有不同的電偶矩,電偶矩的方向?qū)懲怆娭隆?/span>
基本概念:
介電常數(shù):以絕緣材料為介質(zhì)與以真空為介質(zhì)制成同尺寸電容器的電容量之比值。
表示在單位電場中,單位體積內(nèi)積蓄的靜電能量的大小。是表征電介質(zhì)化并儲存電荷的能力,是個宏觀物理量。
介質(zhì)損耗 置于交流電場中的介質(zhì),以內(nèi)部發(fā)熱(溫度升高)形式表現(xiàn)出來的能量損耗。
介質(zhì)損耗角對電介質(zhì)施加交流電壓,介質(zhì)內(nèi)部流過的電流相量與電壓相量之間的夾角的余角。
介質(zhì)損耗角正切對電介質(zhì)施以正弦波電壓,外施電壓與相同頻率的電流之間相角的余角5的正切值--tg6。
其物理意義是:
影響因素
(1)濕度 材料的性越強(qiáng)受濕度的影響越明顯。主要原因是高濕的作用,使水分子擴(kuò)散到高分子的分子間,使其性增加;同時,潮濕的空氣作用于塑料表面,幾乎是在幾分鐘內(nèi)就使介質(zhì)表面形成個水膜層,它具有離子性質(zhì),增加表面電導(dǎo)。因此,材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切都隨之增加.
試樣的狀態(tài)調(diào)節(jié)和測試都應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境。
(2)溫度
(3)測試電壓 板狀試樣:電壓2KV影響不大,過高則增加附加損耗。
薄膜:電壓低于500V。過大使介質(zhì)損耗角正切明顯增加.
(3)測試用接觸電
高頻下,電的附加損耗變大,因而電材料本身的電阻定要小。
相比漏電起痕指數(shù)(CTI)
材料表面能經(jīng)受住50滴電解液而沒有形成漏電痕跡的高電壓值,以伏(v)為單位。
耐漏電起痕指數(shù)(PTI)
材料表面能經(jīng)受住50滴電解液而沒有形成漏電痕跡的耐電壓值,以伏(v)為單位。
試樣應(yīng)水平放置在支撐板上,按圖將電裝好,并施加1N的壓力,用量規(guī)檢查兩電間的距離為4.0土0.1mm。先對兩電加25v倍數(shù)的適當(dāng)電壓,調(diào)整可變電阻,使電短路電流為1.0±0.1A。在兩電供電下,以30±5s的時間間隔下將電解液液滴滴入兩電間的試樣上,直到試樣發(fā)生破壞或滴下50滴為止。
試樣發(fā)生以下兩種情況之視為破壞:
(1)試樣表面兩電間的導(dǎo)電通路電流達(dá)0.5A以上,且過流繼電器延時2s發(fā)生動作; (2)雖過流繼電器未發(fā)生動作,但試樣燃燒了
影響因素
(1)試樣表面狀態(tài) 表面應(yīng)清潔,無灰塵、臟物、指印、油脂、脫模劑或其他影響結(jié)果的污物。表面污染易使電間的試樣產(chǎn)生漏痕,因此試驗(yàn)應(yīng)對試樣表面進(jìn)行清潔處理。
(2)試驗(yàn)點(diǎn)間距選擇 如果在同片試樣上做多點(diǎn)試驗(yàn),則應(yīng)注意試驗(yàn)點(diǎn)之間要有足夠的距離。該間距的大小應(yīng)選在次試驗(yàn)后飛濺出的污物所污染的部分以外,否則使結(jié)果發(fā)生偏差。
(3)環(huán)境條件的影響 除保持溫度在23?℃條件下試驗(yàn)外,還應(yīng)注意周圍的空氣盡量不要流動??諝獾牧鲃訉?dǎo)致液滴落點(diǎn)的偏離,這是試驗(yàn)所不允許的。因而試驗(yàn)時,電和樣品系統(tǒng)放在個密封章內(nèi)進(jìn)行。