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產(chǎn)品型號:HCRD-2
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
所在地:北京市
更新日期:2024-08-30
產(chǎn)品簡介:
品牌 | 華測 |
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一、電弱點(diǎn)測試儀產(chǎn)品簡介:
電弱點(diǎn)測試儀儀器采用計(jì)算機(jī)控制,通過人機(jī)對話方式。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測試。電氣用塑料薄膜的生產(chǎn)過程中,會出現(xiàn)薄膜穿孔、導(dǎo)電顆粒積聚、劃傷等影響電氣性能的電弱點(diǎn)。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》,電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測試,在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)(電弱點(diǎn))數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)。設(shè)計(jì)的薄膜電弱點(diǎn)測試儀,無須將膜卷分切成小卷,根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測試。由于薄膜在生 過程中極易引起縱向劃傷,該儀器引用“電 弱線"概念,即在規(guī)定的時間內(nèi)檢測到的試樣漏電 流均超過1mA時,認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過 程中存在縱向劃痕,從而產(chǎn)生“電弱線",測試儀統(tǒng) 計(jì)的電弱點(diǎn)總數(shù)為電弱點(diǎn)數(shù)與電弱線數(shù)之和。
二、電弱點(diǎn)測試儀主要特點(diǎn):
1、能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試,測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。
2、測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。
3、主要元器件均選用如歐姆龍,美信,ABB等,有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。
4、測量,復(fù)現(xiàn)性好。
5、測試過程采用電子技術(shù)全自動控制,遇到電弱點(diǎn)時電壓切斷動作迅速。
6、擊穿電流在0~40mA連續(xù)可調(diào),復(fù)現(xiàn)性好。
7、多重保護(hù)功能,充分考慮了操作人員及設(shè)備的安全性。
8、過壓、過流、接地保護(hù),試驗(yàn)平臺門開啟保護(hù)。
五、儀器參數(shù)
試驗(yàn)電壓 | 0~5000V (AC、DC) | 輸入電壓 | 220V |
電壓精度 | ±1% | 有效測量范圍 | 0~5kV(ACDC) |
保護(hù)電流 | 0~40mA | 電流精度 | ±1% |
膜移動速度 | 3-10m/min 連續(xù)可調(diào) | 試樣寬度 | 60~650mm(可調(diào)) |
高壓防護(hù) | TVS | 升壓方式 | SPWM |
控制系統(tǒng) | 嵌入式工控機(jī) | 控制方式 | 觸摸屏 |
功率 | 1kW | 數(shù)據(jù)傳輸 | 2個USB接口 |
儀器尺寸 | 220 mm x 230 mm x 70 mm | 供電方式 | 220V(50HZ) |
1、TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù):
采用的光耦隔離方式,但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù),將起到對控制系統(tǒng)的防護(hù)。
2、低通濾波電流監(jiān)測技術(shù):
高壓壓放電過程中將產(chǎn)生高頻信號。而采集過程中無法將高頻信號處理時,從而造成檢測不。無論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計(jì)的傳感器存在材料產(chǎn)生弱點(diǎn)后后瞬間輸出電壓或電流信號過大,從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測開發(fā)的電流采集傳感器將高頻雜波信號進(jìn)行相應(yīng)處理。
3、雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù):
采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電弱點(diǎn)儀器,此儀器不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng),它雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制,當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時,將瞬間切斷高壓,對控制系統(tǒng)防護(hù)。
電弱點(diǎn)測試儀器
電弱點(diǎn)測試儀器